雅馬哈3D AOI YSI-V

優異混合光學外觀檢查裝置

高速、高分辨率2維檢查

1200萬像素的高分辨率成像
高速、高分辨率2維檢查 高度、傾斜面3維檢查 (選配)
電子元件表面貼裝系統
一次性高速測量整個視野內的高度。對于受翹件、
基板與元件的顏色相似、或絲印及焊盤的干擾等影
響在2維圖像中難以檢出的不佳，也能夠準確檢出。
此外，還可以檢出對象物的傾斜度與方向，準確判
定形狀是否正確。
可選擇5種不同的方法實現
檢查
提取特定的顏色
(提取漏銅的實例)
色度
通過亮度提取特定部
位(如：通過文字識別
檢查元件的
極性、錯件、
缺件等)
亮度
利用紅外線的穿透特性，
提取白色基板上的白色
元件。
紅外線
提取傾斜的部分坡度
檢查實際的物理高度